本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚徽米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细徽的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5μm。本标准适用于从晶体试样上获取SAED谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。
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微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法 GB/T 18907-2013
发布日期：2013-07-19
实施日期：2014-03-01
采用标准:ISO 25498-2010,IDT
标准文件有29页。
微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法 GB_T 18907-2013.pdf
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发表于 2021-12-21 16:49