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[信息电子] 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 GB/T 20724-2021

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发表于 2022-1-30 13:46 | 显示全部楼层 |阅读模式
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法(GB/T 20724-2021),标准英文名:Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
发布日期:2021-12-31
实施日期:2022-07-01
标准文件有20页。
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 GB_T 20724-2021.pdf (2.18 MB)

封面截图:
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 GB/T 20724-2021
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