硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法（GB/T 24581-2022），标准英文名：Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
发布日期：2022-03-09
实施日期：2022-10-01
标准文件有9页。
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 GB_T 24581-2022.pdf
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发表于 2022-4-2 19:40