本标准规定了用于恒定应力寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法的程序和方法。它适用于电子元器件产品(以下简称产品)的寿命服从威布尔分布,其形状参数m＞0,特征寿命η＞0,位置参数γ=0,各组投试样品数为n＞25的定数截尾的寿命试验和加速寿命试验的数据处理。
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寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981
实施日期：1981-10-01
标准文件有7页。
寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB_T 2689.3-1981.pdf
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发表于 2022-1-21 11:44