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    [信息电子] 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 GB/T 36477-2018

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    发表于 2022-1-21 15:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
    本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
    本文档为标准规范文档。
    半导体集成电路 快闪存储器测试方法 GB/T 36477-2018
    发布日期：2018-06-07
    实施日期：2019-01-01
    标准文件有19页。
    半导体集成电路 快闪存储器测试方法 GB_T 36477-2018.pdf (1.07 MB)
    集成, 导体, 存储, 快闪

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