半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 GB/T 36474-2018

显示全部楼层 · 发表于 2022-1-21 15:15

本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试的方法。本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试。
本文档为标准规范文档。
半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 GB/T 36474-2018
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
标准文件有16页。

半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 GB_T 36474-2018.pdf (936.78 KB)

[信息电子] 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 GB/T 36474-2018

相关帖子

[信息电子] 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 GB/T 36474-2018

相关帖子

[信息电子] 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 GB/T 36474-2018