本标准规定了半导体X射线探侧器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的侧量方法。本标准适用于半导体X射线探侧器系统和半导体X射线能谱仪主耍性能的侧a.
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标准号:GB/T 11685-2003
标准中文名:半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
标准的英文名:Measurement procedures for semiconductor X - ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
发布日期:2003-07-07
实施日期:2004-01-01
标准文件有30页。
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 GB_T 11685-2003.pdf
(1.03 MB)
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发表于 2021-9-17 02:28