[信息电子] 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法 GB/T 5594.1-1985

发表于 2021-6-22 00:24 | 显示全部楼层 |阅读模式

本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法 GB/T 5594.1-1985
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
标准文件有3页。

[信息电子] 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 GB/T 5594.1-1985