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    [信息电子] 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 GB/T 14031-1992

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    发表于 2021-6-26 05:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
    本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原理。
    本文档为标准规范文档。
    半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 GB/T 14031-1992
    发布日期：1992-12-18
    实施日期：1993-08-01
    标准文件有17页。
    半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 GB_T 14031-1992.pdf (378.92 KB)
    集成, 电路, 导体, 基本, 模拟, 电路模拟

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