本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
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表面化学分析 X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告 GB/T 25185-2010
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
采用标准:ISO 19318-2004,IDT
标准文件有15页。
表面化学分析 X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告 GB_T 25185-2010.pdf
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发表于 2021-12-5 21:02