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[信息电子] 低温下晶体透射率的试验方法 GB/T 16864-1997

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发表于 2021-8-29 16:20 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了低温下(300K~20K),波长在紫外-近红外的晶体透射率的试验方法。本标准适用于晶体透射率的测试。
本文档为标准规范文档。
标准号:GB/T 16864-1997
标准中文名:低温下晶体透射率的试验方法
标准的英文名:Method for testing cryogenic transmissivity of crystals
发布日期:1997-06-16
实施日期:1997-12-01
标准文件有5页。
低温下晶体透射率的试验方法 GB_T 16864-1997.pdf (103.33 KB)
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