标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的体电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。
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标准号:GB/T 26074-2010
标准中文名:锗单晶电阻率直流四探针测量方法
标准的英文名:Germanium monocrystal. Measurement of resistivity. DC linear four-point probe
发布日期:2011-01-10
实施日期:2011-10-01
标准文件有9页。
锗单晶电阻率直流四探针测量方法 GB_T 26074-2010.pdf
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发表于 2021-6-18 23:05