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    [信息电子] 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法 WJ 2100-2004

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    发表于 2022-1-21 09:38 | 显示全部楼层 |阅读模式
    本文档为标准规范文档。
    标准号:WJ 2100-2004
    标准中文名:硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
    标准的英文名:Test method for silicon photodiodes and silicon avalanche photodiodes
    标准文件有36页。
    硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法 WJ 2100-2004.pdf (1.17 MB)
    光电, 二极管

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