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[信息电子] 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分 测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法 SJ/Z 9154.2-1987

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发表于 2022-1-21 20:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准描述一个测量1~125MHz石英晶体元件动态电容的方法,其总测量误差约为5%。本方法的优点是它仅利用SJ/Z 9154-87(IEC 444)标准中描述的测量电路,而不需要另加部件或仪器,后者可能是误差的来源。
本文档为标准规范文档。
标准号:SJ/Z 9154.2-1987
标准中文名:用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分 测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
标准的英文名:Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a π-network. Part 2:Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
实施日期:1988-01-06
采用标准:IEC 444-2-1980,IDT
标准文件有7页。
用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分 测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法 SJ_Z 9154.2-1987.pdf (1.01 MB)
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