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    [信息电子] 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 SJ 2658.11-1986

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    发表于 2021-10-2 09:08 | 显示全部楼层 |阅读模式
    本标准适用于半导体红外发光二极管脉冲响应特性的测试。
    本文档为标准规范文档。
    半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 SJ 2658.11-1986
    此标准已作废
    发布日期：1986-01-21
    实施日期：1986-10-01
    作废日期：2016-04-01
    标准文件有2页。
    半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 SJ 2658.11-1986.pdf (61.64 KB)
    脉冲响应, 特性, 响应, 二极管, 导体, 红外

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