本标准规定了用多晶体X射线衍射仪在室温、高、低温条件下对各种多晶材料进行物相组成的定性分析、物相组成的定量分析、晶粒的大小(范围约为1nm~200nm)及晶粒内点阵畸变的测定、属立方晶系晶体的点阵常数的测定的一般方法。本标准适合用于各种多晶体材料,如金属于合金、矿物于土壤、陶瓷于建筑材料、有机与无机化合物、药物与聚合物及环保式样等。主要适合用衍射仪法,但可参照使用于照相法。
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转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 009-1996
发布日期：1997-01-22
实施日期：1997-04-01
采用标准:ASTM D934-1980,NEQ
标准文件有28页。
转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY_T 009-1996.pdf
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发表于 2021-8-16 00:32